«Análisis Comparativo Del Nivel De Defectuosidad En Los Dispositivos De Potencia SiC MOSFETs». Revista Perspectivas 2, no. 1 (enero 26, 2020): 33–37. Accedido noviembre 9, 2025. https://perspectivas.espoch.edu.ec/RCP_ESPOCH/article/view/69.