Guevara, Esteban, José Tinajero, Mauro Guevara, y Mildred Cajas Buenaño. «Análisis Comparativo Del Nivel De Defectuosidad En Los Dispositivos De Potencia SiC MOSFETs: Array». Revista Perspectivas 2, no. 1 (enero 26, 2020): 33–37. Accedido abril 24, 2024. http://perspectivas.espoch.edu.ec:8081/index.php/RCP_ESPOCH/article/view/69.