Guevara, E., J. Tinajero, M. Guevara, y M. Cajas Buenaño. «Análisis Comparativo Del Nivel De Defectuosidad En Los Dispositivos De Potencia SiC MOSFETs: Array». Revista Perspectivas, vol. 2, n.º 1, enero de 2020, pp. 33-37, doi:10.47187/perspectivas.vol2iss1.pp33-37.2020.