Guevara, E., Tinajero, J., Guevara, M. y Cajas Buenaño, M. (2020) «Análisis comparativo del nivel de defectuosidad en los dispositivos de potencia SiC MOSFETs: Array», Revista Perspectivas, 2(1), pp. 33–37. doi: 10.47187/perspectivas.vol2iss1.pp33-37.2020.